3.2装置（见表3、4、5）：
传感器的输出应被这里规定的仪器或同等或更高精度的仪器转换成温度读数。仪器应按表3由NIST或一个等同的国际标准组织校验，或按其校验可追踪到NIST或其他认可的国际等同标准进行校验。
3.2.1 使用者应审查所有的仪器在AMS2750D中的要求，不是所有按AMS2750C批准的仪器都满足这个版次的要求。
3.2.2 下面的要求（3.2.2.1和3.2.2.2）从此版AMS2750D颁布日起一年后适用于采购的控制、监控或记录仪器。采购的控制、监控或记录仪器在AMS2750D颁布一年内可以满足AMS2750C的要求。
3.2.2.1 炉子/高温烘箱图表记录的温度分辨率应符合表4。
3.2.2.2 过程记录打印和图表速度应符合表5。
3.2.3 测试仪器应是数字式的，并且最小可读性为1℉或1℃。
3.2.4 控制、监控或记录仪器：
3.2.4.1 对烘箱的每个区至少有一个记录和/或控制仪器的最少可读性为1℉或1℃。
3.2.4.2 控制、监控或记录仪器的安装应符合制造商推荐的方法。
3.2.4.3 补偿：如果使用补偿，应有一个程序，描述在何时和如何进行手工和电子补偿。程序应说明如何计算和再引入任何有意的补偿。再引入任何有意补偿之前，任何发现的仪表校验误差都应考虑。不能使用大于表6或7的调节（补偿）。
3.2.4.3.1 如果后来的内部仪器调节或补偿被用来达到TUS要求，那么这些内部的调节或补偿在后来的SAT中必须按3.4.4.3.1应用。另外，如果后来的内部仪器调节或补偿被用来达到SAT要求，那么在TUS范围或分布方面的影响应被视为这个范围将向上或向下漂移以适应这个内部调节或补偿。